红外和高光谱成像

使用硅基 CCD 或 CMOS 传感器的机器视觉已经能够超越我们人类的视觉。但电磁波谱要宽得多，还有许多其他图像传感器技术可检测从 X 射线到长波红外线的光线。

机器视觉主要关注的光谱范围之一是 900 nm - 2,700 nm 的短波红外(SWIR)段，因为塑料、纺织品或矿物等许多材料在这一波长范围呈现出明显的光谱差异以及独有的材料特性，例如，通过硅在~1150nm 处的透明度或在 1450nm 和 1940nm 处的强吸水性，我们可对隐藏特征成像。

因此，SWIR 成像的应用领域格外广泛，覆盖了许多行业，例如食品和饮料（质量检测、散装材料污染检测和分类，或包装密封检查）、回收行业（塑料或建筑垃圾分类）或半导体检测（晶圆检测、层对齐或微裂纹检测）。

但其应用绝不仅限于此：SWIR 波长光线通常可更深入渗透到组织内并产生较少的吸收和散射效应，非常适合生物成像。此外，电信或医疗行业中使用的几种激光波长也在 SWIR 范围内，也可采用相应的相机进行激光束分析。